lP的结构不包括

【名词&注释】

延迟时间(delay time)、密度计(densimeter)、薄膜晶体管(thin film transistor)、电荷耦合器件(ccd)、表面保护层(surface protecting layer)、入射光强度(intensity of incident light)

[单选题]lP的结构不包括

A. 表面保护层^{(surface protecting layer)}
B. 光激励发光物质层
C. 基板层
D. 吸收层
E. 背面保护层

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举一反三：

[单选题]下列关于数字探测器像素设计的说法，正确的是

A. 薄膜晶体管(TFT)只用于间接数字成像系统
B. 间接转换探测器X线元件和光敏元件应放置在探测器顶层
C. 直接转换数字探测器使用电荷耦合器件(CCD)代替TFT阵列
D. 间接转换探测器的半导体阵列比直接转换探测器更容易制造
E. TFT阵列利用光纤从闪烁体或增感屏上发出的光中采集图像

[单选题]现代CR系统的先驱是20世纪哪个年代发展起来的

A. 50年代
B. 60年代
C. 70年代
D. 80年代
E. 90年代

[单选题]关于数字乳腺摄影系统线性的测量，描述错误的是

A. 测量前必须校准X线球管
B. 附加滤过的改变会影响线性的测量
C. 兴趣区的平均像素应不超出整幅图像的10%
D. 成像板的处理延迟时间应保持一致
E. 曝光值的校准应使用厂商的读出算法

[单选题]关于光学密度的叙述，错误的是（ ）

A. 密度以D(Densitv)表示
B. 密度是阻光率以10为底的对数值
C. D=1g入射光强度^{(intensity of incident light)}Io/透射光强度I
D. 照片影像的密度要用观片灯测量
E. 适合诊断的密度范围在0.25-2.0之间

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